[21p-P10-1~24] 15.6 IV族系化合物（SiC）

[21p-P10-18] 高温・高湿度雰囲気中γ線照射によりSiC MOSFETsに生成される電荷の線量依存

〇武山 昭憲¹、松田 拓磨^1,2、横関 貴史^1,2、三友 啓^1,2、村田 航一^1,2、牧野 高紘¹、小野田 忍¹、大久保 秀一³、田中 雄季³、神取 幹郎³、吉江 徹³、大島 武¹、土方 泰斗² (1.原子力機構、2.埼玉大院理工研、3.サンケン電気)

キーワード：炭化ケイ素、電界効果トランジスタ、ガンマ線照射劣化