[21p-P15-1~23] 3.8 光計測技術・機器

[21p-P15-2] 多層構造を有する試料における各層の偏光特性の分別

〇金 蓮花¹、小林 大地¹、近藤 英一¹、高和 宏行²、ジェローズ ベルナール³ (1.山梨大工、2.ユニオプト（株）、3.名大工)

キーワード：偏光計測