2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[21p-P17-1~26] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P17 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P17-2] ガラス基板上のHigh-kゲート絶縁膜を有する自己整合メタルダブルゲート Ni-SPC 低温 Poly-Si TFT

仁部 翔太1、原 明人1 (1.東北学院大工)

キーワード:薄膜トランジスタ

ガラス基板上に簡単で安価に高性能なメタルダブルゲート(DG) 低温(LT) poly-Si TFTを実現するため、ゲート絶縁膜に高誘電率膜であるHfO2を用い、Niを利用した金属誘起固相成長を利用してpoly-Si薄膜を形成した。ゲート絶縁膜にSiO2を用いたDG TFTやHfO2を用いたトップゲート(TG) TFTとの性能の比較の結果、HfO2を用いたDG TFTは、オン電流値が優れていることが確認された。