The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.8 Compound and power electron devices and process technology

[21p-W541-1~12] 13.8 Compound and power electron devices and process technology

Mon. Mar 21, 2016 1:45 PM - 5:00 PM W541 (W5)

Kenji Shiojima(Univ. of Fukui), Kozo Makiyama(Fujitsu Lab.)

4:15 PM - 4:30 PM

[21p-W541-10] 1,000 V Switching Characteristics of Cascode GaN Polarization Super Junction (PSJ) Transistor on Sapphire

Shuichi Yagi1, Shouko Hirata1, Yusuke Kamiyama1, Fumihiko Nakamura1, Takeru Saito1, Hiroji Kawai1 (1.POWDEC)

Keywords:GaN,power device

サファイア基板上の分極超接合(PSJ)方式を用いた1200V/40A級GaN FETをSi-MOSと組み合わせるカスコード接続でノーマリーオフ化し、1,000Vのスイッチング評価を行った。ドレイン電圧上昇時間(Tr)は28 ns、下降時間(Tf)は66 nsであった。サファイア基板上のGaN PSJ-FET は、カスコード接続を用いても高圧時に電流コラプスの影響が無いことが確認できた。