16:00 〜 18:00 [6p-PA8-14] プロトン照射がGaN HEMTの長期信頼性に与える影響 〇日坂 隆行1、佐々木 肇1、奥 友希1、羽鳥 聡2、石神 龍哉2、久米 恭2 (1.三菱電機(株)、2.若狭湾エネ研)