The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.2 II-VI and related compounds

[5p-A411-1~13] 15.2 II-VI and related compounds

Tue. Sep 5, 2017 1:15 PM - 4:45 PM A411 (411)

Kazuyuki Uno(Wakayama Univ.), Ichirou Nomura(Sophia Univ.)

3:30 PM - 3:45 PM

[5p-A411-9] Deposition of CdZnTe films for radiation tolerant FEA image sensor

Tomoya Igari1, Tamotsu Okamoto1, Tomoaki Masuzawa2, Yoichiro Neo2, Hidenori Mimura2 (1.NIT, Kisarazu Coll., 2.Shizuoka Univ.)

Keywords:CdZnTe, Close-spaced sublimation

東日本大震災に伴う福島第一原子力発電所事故以来,原子炉内部の状態を的確に把握するため,高い放射線耐性を有した小型撮像素子の開発が急務となっている.本研究では小型撮像素子としてFEA撮像素子を提案し,その要素技術であるCdTe光電変換膜のイメージセンサとしての構造の最適化を行っている.今回,CdTe光電変換膜の暗電流低減のため,CdTeにZnを添加したCdZnTe膜の作製を行ったので報告する.