14:00 〜 14:15
[5p-C21-2] MBE成長したGaAs/GaAsBi量子井戸のBiの表面偏析
キーワード:半導体、GaAsBi、偏析
MBE成長したGaAs/GaAsBi量子井戸をSTEM(Scanning Transmission Electron Microscope)及びEDS(Energy Dispersive Spectroscorpy)により調べ、求めたBi組成のプロファイルを解析した。
一般セッション(口頭講演)
15 結晶工学 » 15.3 III-V族エピタキシャル結晶・エピタキシーの基礎
14:00 〜 14:15
キーワード:半導体、GaAsBi、偏析