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[5p-PA3-5] 金属/有機半導体界面における蓄積電荷測定:オフセット電圧の効果
キーワード:有機半導体デバイス、電荷注入障壁
最近我々は、コンデンサー型実デバイスの状態で電荷注入障壁を求める蓄積電荷測定法(ACM)を発表した。しかし実デバイス構造では、電極間のフェルミ準位の違いによってビルトインポテンシャルが発生し、その電場によりフラットバンドの仮定が成り立たなくなることによる誤差が懸念された。そこで本研究では、n-Si/SiO2/H2PC or ZnPc/Ag試料にオフセット電圧を印加したまま測定することにより、ビルトインポテンシャルがACM法に及ぼす影響を調べた。