The 78th JSAP Autumn Meeting, 2017

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.3 Micro/Nano patterning and fabrication

[5p-S42-1~15] 7.3 Micro/Nano patterning and fabrication

Tue. Sep 5, 2017 1:15 PM - 5:45 PM S42 (Conf. Room 2)

Toru Yamaguchi(NTT), Jiro Yamamoto(HITACHI), Jun Taniguchi(Tokyo Univ. of Sci.)

2:00 PM - 2:15 PM

[5p-S42-4] Characterization of CMOS image sensor for soft x-ray

Tetsuo Harada1, Yusuke Nakatani1, Nobukazu Teranishi1, Takeo Watanabe1 (1.Univ. of Hyogo)

Keywords:Soft X-ray, CMOS image sensor

本研究では、最近開発された科学計測用の裏面照射CMOS イメージセンサ(GSENSE400BSI Gpixel)の軟X線特性を兵庫県立大学の放射光施設ニュースバルにて評価した。(センササイズ 22.5 mm□、ピクセルサイズ11 μm□、2048 x 2048 ピクセル、フレームレート 48 fps、Full well charge >89 ke-、実測読み出しノイズ 2 e-rms)