2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

[5p-S42-1~15] 7.3 微細パターン・微細構造形成技術

2017年9月5日(火) 13:15 〜 17:45 S42 (第2会議室)

山口 徹(NTT)、山本 治朗(日立)、谷口 淳(東理大)

14:00 〜 14:15

[5p-S42-4] 軟X線CMOS イメージセンサの特性評価

原田 哲男1、中谷 侑亮1、寺西 信一1、渡邊 健夫1 (1.兵県大)

キーワード:軟X線、CMOSイメージセンサ

本研究では、最近開発された科学計測用の裏面照射CMOS イメージセンサ(GSENSE400BSI Gpixel)の軟X線特性を兵庫県立大学の放射光施設ニュースバルにて評価した。(センササイズ 22.5 mm□、ピクセルサイズ11 μm□、2048 x 2048 ピクセル、フレームレート 48 fps、Full well charge >89 ke-、実測読み出しノイズ 2 e-rms)