2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[6a-A503-1~13] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2017年9月6日(水) 09:00 〜 12:30 A503 (503)

永井 勇太(グローバルウェーハズ・ジャパン)、竹内 正太郎(阪大)

09:15 〜 09:30

[6a-A503-2] 分子クラスターイオン注入エピウェーハの製品特性(1)
-注入領域における水素の脱離・吸着挙動の解析-

奥山 亮輔1、柾田 亜由美1、重松 理史1、廣瀬 諒1、門野 武1、古賀 祥泰1、奥田 秀彦1、栗田 一成1 (1.SUMCO)

キーワード:分子クラスター、水素

我々はCMOSイメージセンサの高性能化のために、炭素分子クラスターに酸素を追加した多元素・分子クラスターイオン注入技術の開発をおこなってきた。多元素・分子クラスターイオン注入レンジは炭素分子クラスターと異なり、二つの水素のピークが観察されることを明らかとした。水素に対する捕獲能力の解析は多元素・分子イオン注入ウェーハの特性の理解に重要である。そのため、多元素・分子クラスターイオン注入レンジにおいて、従来報告がない水素の捕獲・拡散挙動に関して、評価、解析をおこなったので報告する。