2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

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CS コードシェアセッション » 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

[6a-S41-1~11] 【CS.9】7.1 X線技術と7.4 量子ビーム界面構造計測のコードシェアセッション

2017年9月6日(水) 09:00 〜 12:15 S41 (第1会議室)

白澤 徹郎(産総研)、鈴木 秀士(名大)、和達 大樹(東大)

11:30 〜 11:45

[6a-S41-9] 時分割X線CTR散乱法を用いた電気化学反応中のPt(111)電極表面構造変化の解析

白澤 徹郎1,2、増田 卓也3、Voegeli Wolfgang4、荒川 悦雄4、高橋 敏男4、魚崎 浩平3、松下 正5 (1.産総研、2.JSTさきがけ、3.物材機構、4.東京学芸大、5.高エ研-PF)

キーワード:表面X線回折、電気化学

著者等は波長分散集束X線を用いてCTR散乱プロファイルを1秒以下の時間分解能で測定する方法を開発してきた。本研究ではこの方法が電気化学反応中の界面構造追跡に有効であることを示す。Pt(111)電極表面におけるメタノール電気化学分解においては,Pt(111)表面原子層の過渡的変化が観察された。この変化は反応中間体であるCO吸着層の酸化脱離過程を反映する。