13:45 〜 14:00
▲ [7p-C13-1] Welcome to the symposium on recent GFIS / advanced ion source microscopy
キーワード:helium ion microscope, gas field ion microscope
シンポジウム(口頭講演)
シンポジウム » GFIS(電界電離ガスイオン源)・先端イオン源顕微鏡技術とその材料・デバイス研究開発への応用
13:45 〜 14:00
キーワード:helium ion microscope, gas field ion microscope