2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[7p-PB4-1~12] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2017年9月7日(木) 13:30 〜 15:30 PB4 (国際センター2F)

13:30 〜 15:30

[7p-PB4-2] 表面損傷を与えたSi基板におけるSi欠陥発光の寿命評価(II)

扇 和也1、岡 直大1、池田 修哉1、瀬戸島 健太1、寺井 慶和1 (1.九工大情報工)

キーワード:Si欠陥、発光寿命、フォトルミネセンス