一般セッション(口頭講演)
8 プラズマエレクトロニクス » 8.2 プラズマ診断・計測
09:00 〜 09:15
〇江藤 宗一郎1、大森 健史1、井上 智己2 (1.日立研開、2.日立ハイテク)
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09:15 〜 09:30
〇堤 隆嘉1、Sirse Nishant2、Ellingboe Albert2、Sekine Makoto1、Hori Masaru1 (1.Nagoya Univ.、2.Dublin City Univ.)
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09:30 〜 09:45
〇橘 邦英1、中村 敏浩1、川崎 三津夫2、森田 達夫3 (1.大阪電通大、2.京大工、3.PMディメンションズ)
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09:45 〜 10:00
〇堀田 朋敬1,2、山田 大将1,2、野中 淳司1,2、岡本 敦3、北島 純男4、藤原 正純2、加藤 進2、板垣 宏知2、榊田 創1,2 (1.筑波大院システム情報工、2.産総研、3.名古屋大院工、4.東北大院工)
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10:00 〜 10:15
〇兒玉 直人1、石坂 洋輔1、清水 光太郎1、田中 康規1、上杉 喜彦1、石島 達夫1、末安 志織2、渡邉 周2、中村 圭太郎2 (1.金沢大院自然、2.日清製粉グループ本社)
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10:15 〜 10:30
〇(M1)川上 皓太郎1、西山 修輔1、佐々木 浩一1 (1.北大工)
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10:30 〜 10:45
〇佐藤 祐太1、江口 寿明1、築山 昌一1、深田 来夢1、富田 健太郎1、内野 喜一郎1 (1.九大総理工)
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