2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

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13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[14p-P3-1~19] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年3月14日(火) 13:30 〜 15:30 P3 (展示ホールB)

13:30 〜 15:30

[14p-P3-10] 微小圧縮試験片を用いたNiFeCoGa形状記憶合金の機械的特性評価

井川 健吾1、柳田 佐理1、Chang Tso-Fu Mark1、Chen Chun-Yi1、田原 正樹1、稲邑 朋也1、細田 秀樹1、Chernenko Volodymyr A.2、曽根 正人1 (1.東工大、2.Ikerbasque)

キーワード:MEMS、形状記憶合金、微小材料試験