[17p-211-1~12] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[17p-211-7] Characterization of Potential Induced Degradation of Crystalline Si Solar Cell Modules Using a Laser Terahertz Emission Microscope(LTEM)Ⅱ

〇FUJIKAZU KITAMURA¹, KIYOTAKA MATSUO¹, MINORU MIZUBATA¹, HIDETOSHI NAKANISHI¹, IWAO KAWAYAMA², MASAYOSHI TONOUCHI², KATSUHIKO SHIRASAWA³, TOSHIMITSU MOCHIZUKI³, HIDETAKA TAKATO³ (1.SCREEN, 2.ILE Osaka Univ., 3.FREA,AIST)

Keywords:Terahertz, Solar Cell, Photovoltaic, Femtosecond laser

レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（LTEM）は、フェムト秒レーザーパルスを分析対象に照射し、発生するテラヘルツ波を検出・イメージ化する技術である。2016年秋季学術講演会では、開放状態でのTHz振幅強度の変化は電圧誘起劣化(PID)の状態を反映していることを報告した。今回、PIDの進行度とTHz波振幅強度の関係について開放状態と短絡状態で評価したので報告する。