[17p-211-1~12] 16.3 シリコン系太陽電池

[17p-211-7] レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（LTEM）を用いた結晶Si太陽電池モジュールの電圧誘起劣化評価Ⅱ

〇北村 藤和¹、松尾 清隆¹、水端 稔¹、中西 英俊¹、川山 巌²、斗内 政吉²、白澤 勝彦³、望月 敏光³、高遠 秀尚³ (1.SCREEN、2.阪大レーザー研、3.産総研)

キーワード：テラヘルツ、太陽電池、フェムト秒レーザー

レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡（LTEM）は、フェムト秒レーザーパルスを分析対象に照射し、発生するテラヘルツ波を検出・イメージ化する技術である。2016年秋季学術講演会では、開放状態でのTHz振幅強度の変化は電圧誘起劣化(PID)の状態を反映していることを報告した。今回、PIDの進行度とTHz波振幅強度の関係について開放状態と短絡状態で評価したので報告する。