09:45 〜 10:00 [20a-CE-4] 複数回ストレスを利用した特性ばらつき自己修復手法のBulk SRAMセルへの応用 〇水谷 朋子1、竹内 潔1、更屋 拓哉1、小林 正治1、平本 俊郎1 (1.東大生研)