[19p-436-1~17] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[19p-436-13] 紫外から赤外領域におけるII型Geクラスレート膜の光吸収スペクトル

〇前田 拓磨¹、ジャ ヒマンシュ¹、大橋 史隆¹、久米 徹二¹、野々村 修一¹ (1.岐大工)

キーワード：クラスレート、半導体、光吸収スペクトル

本研究では新規半導体として期待できる透明基板上に合成したNa内包２型Geクラスレート(Na_xGe₁₃₆)膜を用いてUV-visおよびIR領域において光透過率測定を行い、光吸収特性の評価を試みた。