[19p-PA5-1~14] 16.3 シリコン系太陽電池

[19p-PA5-12] PID試験中の太陽電池モジュール内部の電流及び電界解析

〇橘 泰至¹、豊田 丈紫¹、上田 芳弘¹、山口 世力²、大平 圭介²、山本 千津子³、増田 淳³ (1.石川工試、2.北陸先端大、3.産総研)

キーワード：電圧誘起劣化、解析、電流密度

電圧誘起劣化の発生を想定した電圧を結晶Si太陽電池に印加した際のモジュール内部の電界及び電流を解析した。バックシートにアルミニウムが含まれる場合と比較して、バックシートが絶縁体である場合には、セル端部に向けて電流が集中する解析結果を得た。これらの結果は、バックシートの素材の違いがPID耐性に影響を与えることを示唆する。