2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(ポスター講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[19p-PB3-1~14] 6.6 プローブ顕微鏡

2018年9月19日(水) 13:30 〜 15:30 PB (白鳥ホール)

13:30 〜 15:30

[19p-PB3-9] ボロフェンの低温電子物性測定

新宮 勇1、細川 晋平1、遠藤 聡1、田畑 博史1、久保 理1、片山 光浩1 (1.阪大院工)

キーワード:ボロフェン、超伝導

ボロフェンはホウ素によって構成された二次元層状物質である.この物質は超伝導性の発現が予想されており, 2次元超伝導体の学理解明の上でも重要な材料である.しかし,現状ではボロフェンに関して超伝導特性の測定を実際に行ったとの報告はされていない.そこで本研究では特に転移温度が高いχ3相ボロフェンを作製し極低温に冷却した際のボロフェンの構造と電子状態を測定した.