The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.3 Insulator technology

[21a-145-1~9] 13.3 Insulator technology

Fri. Sep 21, 2018 9:00 AM - 11:30 AM 145 (Reception Hall)

Osamu Nakatsuka(Nagoya Univ.), Ishizaki Hiroki(Saitama Inst. of Tech.)

9:30 AM - 9:45 AM

[21a-145-3] Properties of a CVD-SiO2 film at room temperature by active species from high purity ozone gas

Naoto Kameda1, Toshinori Miura1, Yoshiki Morikawa1, Mitsuru Kekura1, Ken Nakamura2, Hidehiko Nonaka2 (1.Meidensha corp., 2.AIST)

Keywords:ozone oxidation, CVD, SiO2 film

室温成膜技術は、有機ELディスプレイ等フレキシブルエレクトロニクス分野で用いられる耐熱性の低いフレキシブル基板上でのデバイス作製プロセスに必要である。今回、CVD成膜温度の低温化のため、高純度オゾンとエチレン(C2H4)ガスの反応による大量のOHラジカル生成技術[をCVDに適用し、室温でのSiO2成膜を試みた。膜質について報告する。