The 79th JSAP Autumn Meeting, 2018

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Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.4 III-V-group nitride crystals

[21p-146-1~17] 15.4 III-V-group nitride crystals

Fri. Sep 21, 2018 1:30 PM - 6:00 PM 146 (Reception Hall)

Tsutomu Araki(Ritsumeikan Univ.), Narihito Okada(Yamaguchi Univ.)

4:45 PM - 5:00 PM

[21p-146-13] Self-bias effect on non-polar AlN thin film growth by reactive sputtering

〇(M2)Kouta Tatejima1,2, Takahiro Nagata2, Keiji Ishibashi2,3, Kenichirou Takahashi2,3, Setsu Suzuki2,3, Atsushi Ogura1, Toyohiro Chikyow2 (1.Meiji Univ., 2.NIMS, 3.COMET Inc.)

Keywords:AlN, Non-polar, Sputtering

現在、グリーンギャップ問題などに対し、無極性面GaN及びAlNの成長が求められている。我々は、セルフバイアスで成膜する極性面成長に対し基板-ターゲット間をグラウンドに落としてバイアスを0にすることによって極性面の配向性を弱め、無極性面の配向性を強める事を考案した。本報告では、0バイアスによる配向制御の効果と、c軸配向制御のパラメーターとして用いられるN2流量比の条件検討を行った。