11:45 〜 12:00 [17a-F202-10] フレキシブル基板上の薄膜のX線反射率測定~簡便かつ再現性の高い試料固定法とその活用~ 〇徳永 幸大1、上林 浩行1、田尻 恭之2、佐藤 誠1、香野 淳2 (1.東レフィルム研、2.福岡大理)