Wolfgang Voegeli

発表者・著者、共著者

2018年3月17日(土) 09:00 〜 12:15 F202 (61-202)

一般セッション(口頭講演)
| 7 ビーム応用
| 7.4 量子ビーム界面構造計測

[17a-F202-1~11] 7.4 量子ビーム界面構造計測

11:30 〜 11:45

[17a-F202-9] Dispersive X-ray scattering measurements for time-resolved observation of thin films

〇Wolfgang Voegeli¹、Etsuo Arakawa¹、Toshio Takahashi¹、Tetsuroh Shirasawa^2,3、Hiroo Tajiri⁴、Masamitu Takahasi⁵、Takuo Sasaki⁵、Tadashi Matsushita⁶ (1.Tokyo Gakugei Univ.、2.AIST、3.JST-PRESTO、4.JASRI/SPring-8、5.QST、6.KEK-PF)

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