14:15 〜 14:30 △ [18p-D103-5] 分子イオン注入エピウェーハの製品特性(5)-3次元アトムプローブを用いたCH3Oイオン注入ウェーハに形成される注入欠陥のゲッタリング挙動解析- 〇重松 理史1、奥山 亮輔1、廣瀬 諒1、門野 武1、小林 弘治1、柾田 亜由美1、古賀 祥泰1、奥田 秀彦1、栗田 一成1 (1.SUMCO)