11:15 〜 11:30 [19a-C302-9] 低周波容量DLTS測定によるMOCVD p-GaNのトラップ評価 〇(M1)小木曽 達也1、徳田 豊1、成田 哲生2、冨田 一義2、加地 徹3 (1.愛知工大、2.豊田中央研究所、3.名古屋大学)