14:30 〜 14:45 △ [19p-C202-3] MoTe2の2H半導体相に対する接触特性の走査ゲート顕微法を用いた評価 〇(B)坂梨 昂平1、神谷 航太1、大内 秀益1、山中 智貴1、宮本 克彦1、尾松 孝茂1、ジョナサン P.バード2、青木 伸之1 (1.千葉大工、2.バッファロー大)