18:45 〜 19:00 [19p-F206-10] 軟X線発光分光法と走査型電子顕微鏡を用いた光照射下でのアモルファス窒化炭素薄膜の電子状態測定 〇青野 祐美1、阿部 洋1、石井 信伍2、佐藤 庸平2、寺内 正己2 (1.防衛大材料、2.東北大多元研)