2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[17p-P7-1~21] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2018年3月17日(土) 13:30 〜 15:30 P7 (ベルサール高田馬場)

13:30 〜 15:30

[17p-P7-20] 超臨界二酸化炭素下でのエタノールを炭素源とした微細孔へのCNMの埋め込み
―Fe触媒の場合―

渡辺 雄大1、古川 篤1、宇原 祥夫1、伊藤 勝利1、斉藤 茂1 (1.東理大工)

キーワード:超臨界二酸化炭素、CNM

普及しているデバイスの高機能化にはLSIの高性能化が必要となる。それに伴い、使用されているTrの微細化が進むと、従来の銅配線ではEMを引き起こし、装置の信頼性が低下するという問題が発生する。CNTは、高い電流密度耐性を持つため、EMを克服した配線材料として注目されている。今回我々は使用する基板のボトムカバレッジ率を実験から求め、微細孔へのCNMの埋め込みを試みた。CNMの埋め込み時の圧力・基板温度の最適条件を報告する。