The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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13 Semiconductors » 13.5 Semiconductor devices and related technologies

[17p-P8-1~24] 13.5 Semiconductor devices and related technologies

Sat. Mar 17, 2018 1:30 PM - 3:30 PM P8 (P)

1:30 PM - 3:30 PM

[17p-P8-17] A Comparison Study on the Reliability of Hierarchical Hybrid Storage Systems

Ryohei Shimizu1, Arafat Hassan1, Johguchi Koh1 (1.Shinshu Univ.)

Keywords:storage architecture, storage class memory, NAND flash memory

高速ストレージ(SSD)を実現するために、NAND フラッシュメモリに加えて、MRAM のような理論上無限回書換え可能である高速不揮発メモリと、PCRAM、ReRAM に代表される、メモリセルに書換え数制限のあるストレージクラスメモリ(SCM)を活用した2 層または 3 層の階層型ハイブリッドSSDについて、ストレージアーキテクチャ及びデータマネジメントアルゴリズムを提案し、信頼性とビットコストの観点から比較検討する。