The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.7 Compound and power electron devices and process technology

[18a-C302-1~12] 13.7 Compound and power electron devices and process technology

Sun. Mar 18, 2018 9:00 AM - 12:15 PM C302 (52-302)

Kenji Shiojima(Univ. of Fukui)

11:30 AM - 11:45 AM

[18a-C302-10] An etching of the n--drift layer grown on the freestanding GaN substrate by a pulsed anodic oxidation

FUMIMASA HORIKIRI1, YOSHINOBU NARITA1, TAKEHIRO YOSHIDA1 (1.Sciocs Co. Ltd.)

Keywords:GaN, anodic oxidation, etching

GaN は光アシストによる電気化学(PEC)エッチングにより、ウエットエッチングが可能である。しかし、サファイヤ基板上の報告が多く、自立基板上の報告、特にn-ドリフト層に関するものは少ない。今回、転位密度106 cm-2 台の自立基板上に成長したn-層について、パルス陽極酸化によるウエットエッチング行い、エッチングに必要な電荷量やエッチング面の粗さについて調査したので、その結果について報告する。