[18p-D101-1~17] 16.3 Bulk, thin-film and other silicon-based solar cells

[18p-D101-17] Effect of evacuating the chamber in a cell-level PID test on the degradation behavior of solar cells

〇Seira Yamaguchi¹, Keisuke Ohdaira¹ (1.JAIST)

Keywords:Photovoltaic module, Reliability, Potential-induced degradation

本研究では，セルレベルの電圧誘起劣化試験における真空引きの影響を調査した．ガラス／EVA／セルという未ラミネートの積層構造に対して試験を行った際，真空引きを行うことによって劣化が大きく加速することがわかった．この効果の原因は，真空引きによって積層構造の界面の密着性が向上したためと推測される．