[19a-F210-1~9] CS5 6.6 プローブ顕微鏡,12.2 評価・基礎物性のコードシェアセッション

[19a-F210-5] 室温FM-AFM/KFMによるフラーレン分子の分子構造評価

〇田中 暉之¹、小林 圭¹、山田 啓文¹ (1.京大工)

キーワード：分子エレクトロニクス