09:30 〜 09:45
[20a-B403-3] ガスクラスターイオンビームを用いた低損傷表面活性化接合の検討
キーワード:ガスクラスターイオンビーム、表面活性化接合
ArイオンやAr-FABの替わりに、原子や分子が数十から数百個集合(クラスター)した原子集団をイオン化・加速し、試料表面に照射するGCIBを用いて、低損傷表面活性化接合を検討している。本研究では、InP単結晶基板にGCIBを斜入射で照射し、照射条件による損傷の違いについて評価し、低損傷表面活性化接合を検討した。
一般セッション(口頭講演)
7 ビーム応用 » 7.5 イオンビーム一般
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キーワード:ガスクラスターイオンビーム、表面活性化接合