2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.5 イオンビーム一般

[20a-B403-1~10] 7.5 イオンビーム一般

2018年3月20日(火) 09:00 〜 11:45 B403 (53-403)

瀬木 利夫(京大)、柳沢 淳一(滋賀県立大)

09:30 〜 09:45

[20a-B403-3] ガスクラスターイオンビームを用いた低損傷表面活性化接合の検討

〇(M1)池田 翔太1、豊田 紀章1 (1.兵庫県立大工)

キーワード:ガスクラスターイオンビーム、表面活性化接合

ArイオンやAr-FABの替わりに、原子や分子が数十から数百個集合(クラスター)した原子集団をイオン化・加速し、試料表面に照射するGCIBを用いて、低損傷表面活性化接合を検討している。本研究では、InP単結晶基板にGCIBを斜入射で照射し、照射条件による損傷の違いについて評価し、低損傷表面活性化接合を検討した。