2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

21 合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

[20a-E201-1~9] 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2018年3月20日(火) 09:00 〜 11:30 E201 (57-201)

大島 孝仁(佐賀大)

11:15 〜 11:30

[20a-E201-9] NiO/β-Ga2O3ヘテロ接合フォトダイオードの紫外線検出特性

中込 真二1、佐々木 光1、目黒 真也1、國分 義弘1 (1.石巻専修大理工)

キーワード:酸化ガリウム、酸化ニッケル、フォトダイオード

NiO/β-Ga2O3ヘテロ接合フォトダイオードの紫外線検出特性を評価した。UV照射強度の増加に伴って電流-電圧特性全体が逆方向電流側にシフトする変化を示した。分光感度特性では, β-Ga2O3側からの照射で290 nmに, NiO側からの照射で335 nmに最大感度をもつ。約150μs幅で照射したUV光パルスに追随して, 逆方向電流が応答することが確認できた。