[20p-B303-1~8] 7.2 Applications and technologies of electron beams

[20p-B303-3] Localized electric field visualization technique with offset HAADF STEM

〇(B)Yu Kikuchi¹, Samuel Jeong¹, Yoshikazu Ito¹, Jun-ichi Fujita¹ (1.Tsukuba Univ.)

Keywords:Localized electric field, Visualization, Electron beam scattering

本研究では200keV-STEMによるオフセットHAADF検出器を用いた 局在電場可視化法を検討した。検出器をオフセットに設置し、微小角に散乱された電子線を検出することで、STEM像中で局在電場を明領域として可視化した。プローブ先端の局在電場可視化像と、同一条件における二次元電場シミュレーションはよく一致した。また、銀結晶先端に形成された微弱な局在電場を可視化することができた。