宮崎雅大

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発表者・著者、共著者

2019年9月18日(水) 09:30 〜 12:15 C310 (C310)

一般セッション(口頭講演)
| 6 薄膜・表面
| 6.6 プローブ顕微鏡

[18a-C310-1~10] 6.6 プローブ顕微鏡

10:00 〜 10:15

△ [18a-C310-3] ヘテロダイン方式周波数変調ケルビンプローブ力顕微鏡によるバンド曲がりの影響を除いた表面電位測定

〇宮崎雅大¹、安達有輝¹、李艶君¹、菅原康弘¹ (1.阪大院工)