[18a-E302-1~12] 12.2 評価・基礎物性

△ [18a-E302-11] 表面電位の連続測定を可能にする回転型Kelvin Probe装置の開発

〇(B)大原 正裕¹、渡辺 達也²、田中 有弥^2,3、石井 久夫^2,3,4 (1.千葉大工、2.千葉大院融合、3.千葉大先進、4.千葉大MCRC)

キーワード：有機半導体、巨大表面電位、異方性配向

アモルファス薄膜中の分子が異方性配向することで生じるGiant Surface Potential(GSP)は電荷移動度、キャリアの再結合効率などに大きな影響を及ぼす。このような分子の異方性配向の起源は明らかになっておらず、GSPは環境光によって減衰するため従来の方法では実験に高度な技術を要するのが問題であった。本研究ではこれを完全な遮光下で自動測定できる「回転型Kelvin Probe装置」を開発し、各種材料の接触電位差を測定、正常に動作していることを確認した。