[18a-E311-1~9] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[18a-E311-9] (La_1-xSr_x)VO₃/p-Si(100)接合のエネルギーバンド不連続性の測定

〇阪永 裕士¹、根元 亮一¹、Yujun Zhang¹、和達 大樹¹、吉田 晴彦¹、新船 幸二¹、堀田 育志¹ (1.兵県大工)

キーワード：強相関電子系、金属絶縁体転移、ペロブスカイト

我々はこの金属絶縁体転移をSiデバイスに適用することを検討してきた。そこで金属絶縁体転移を示すペロブスカイト型遷移金属酸化物(La_1-XSr_X)VO₃/Si[LSVO(x)] とSiの接合を作製したところ、この接合デバイスの動作を考察する上で、その界面におけるSrの組成ｘに対するバレンスバンド不連続性を調査する必要が生じた。本研究では、X線光電子分光(XPS)法を用いてLSVO(x)/Si界面のバレンス不連続性を見積もったので報告する。