The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

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8 Plasma Electronics » 8.1 Plasma production and diagnostics

[18a-PA6-1~12] 8.1 Plasma production and diagnostics

Wed. Sep 18, 2019 9:30 AM - 11:30 AM PA6 (PA)

9:30 AM - 11:30 AM

[18a-PA6-4] Mass Spectrometric Study on Incident Ions on Electrode in Low-Pressure RF Tetramethylsilane Plasmas with Different Dilution Gases

Shun Suzuki1, Shin Ogawa1, Koichi Ishii1, Akinori Oda1, Takayuki Ohta2, Hiroyuki Kousaka3, Yasuaki Watanabe4 (1.Chiba Tech, 2.Meijo Univ., 3.Gifu Univ., 4.Innovation Science Inc.)

Keywords:Capacitively-Coupled Plasma, Mass Spectrometric, Tetramethylsilane

Siを含有したダイヤモンドライクカーボン(Si-DLC)膜は,非常に低い摩擦係数を示し,自動車部品等の摺動部品への応用が期待されている.Si-DLC成膜時のプラズマ生成用ガスとしてテトラメチルシラ(Tetramethylsilane,以下TMS)が主に用いられている.本研究では,Ar, He, Ne という異なるガスで希釈されたTMSガスを用いて容量結合型RF低圧プラズマを生成し,質量分析装置を用い電極に入射したイオンの測定を行ったので,その結果について報告する.