The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

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Joint Session K » 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[18p-PB5-1~36] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Wed. Sep 18, 2019 4:00 PM - 6:00 PM PB5 (PB)

4:00 PM - 6:00 PM

[18p-PB5-9] Effect of the treated native oxides of GaN templates on ε-Ga2O3 epitaxial growth by mist chemical vapor deposition

Yusuke Ito1, Daisuke Tahara1, Yuta Arata1, Hiroyuki Nishinaka1, Masahiro Yoshimoto1 (1.Kyoto Inst. of Tech.)

Keywords:Gallium Oxide, Gallium Nitride, native oxide

超ワイドバンドギャップ半導体として知られている酸化ガリウム(Ga2O3, Eg = 約5.0 eV)は、5つの結晶構造(α、β、γ、δ、ε)を持つ結晶多形である。その中でもε-Ga2O3は準安定相であり、強誘電体特性や自発分極を示すなどの特性から近年注目を集めている。
本発表では、GaNテンプレート基板上の自然酸化膜に対して、BHF洗浄、酸素プラズマ処理、アニール処理を施し、その上にミストCVD法を用いてε-Ga2O3薄膜成長を試みた。