2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」 » 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

[20a-PB4-1~10] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

2019年9月20日(金) 09:30 〜 11:30 PB4 (第二体育館)

09:30 〜 11:30

[20a-PB4-2] Siワイヤのゼーベック係数とフォノン輸送特性

〇(M1C)野北 崇人1、鈴木 悠平1、荒巻 豪士1、ファウジアー ホティマトゥル1、鎌倉 良成2、渡邉 孝信3、池田 浩也1 (1.静大、2.阪工大、3.早大)

キーワード:Siワイヤ、ゼーベック係数、フォノンドラッグ効果

微小断面積のSiワイヤにおいて, フォノンドラッグ効果に起因するバルクSiより低いゼーベック係数が報告されている. フォノンドラッグ効果に対するワイヤサイズ依存性を明らかにするため, 断面積の異なるSiワイヤのゼーベック係数を測定し, フォノン輸送の観点から解析を行った. 断面積0.3 μm2以下でフォノンの境界散乱が支配的になり, その結果として, ゼーベック係数のフォノンドラッグ成分の低下をもたらすことがわかった.