The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[20p-E304-1~13] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Fri. Sep 20, 2019 1:45 PM - 5:15 PM E304 (E304)

Kenji Shinozaki(AIST), Tamihiro Gotoh(Gunma Univ.), Toshihiro Nakaoka(Sophia Univ.)

5:00 PM - 5:15 PM

[20p-E304-13] Investigation of Photodoping Process in Ag/GeS2 Double Layer Films using Neutron Beam

Yoshihisa Murakami1, Takehisa Shibuya2, Moriaki Wakaki2, Yoshifumi Sakaguchi3 (1.Tsukuba Univ. of Tech., 2.Tokai Univ., 3.CROSS)

Keywords:photodoping, neutron beam

Ag/GeS2二層膜のフォトドーピング現象の解明のため、光照射を行いながら、中性子を照射し、その反射率を測定することによって薄膜表面の状態変化を調べた。
エリプソメトリーや透過率測定で行ってきた結果とは異なる反応メカニズムが示唆された。