[20p-E313-1~17] 1.5 計測技術・計測標準

[20p-E313-17] ポリジメチルシロキサンの光イオン化計測

〇鈴木 淳¹、永井 秀和¹ (1.産総研分析計測標準)

キーワード：光イオン化、質量分析、高分子

ジメチルポリシロキサン（Dimethylpolysiloxane, DMPS）の355 nm光イオン化質量分析を行った。TOFから求められる質量電荷比と、DMPSの構造式からの推測から、CH_x、O、C₂H_y、Siによる質量ピークを観測した。一方DMPSは高分子であるにもかかわらず、上記よりも大きい質量をもつピークは計測されなかった。これにより本実験の測定条件では355 nmによる光イオン化での単量体分子の解離が促進され、分子のソフトイオン化が阻害されることがわかった。