2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.6 IV族系化合物(SiC)

[21a-E311-1~7] 15.6 IV族系化合物(SiC)

2019年9月21日(土) 09:00 〜 10:45 E311 (E311)

原田 俊太(名大)

10:00 〜 10:15

[21a-E311-5] 三フッ化塩素ガスを用いた炭化珪素エピリアクタークリーニングにおける反応熱の影響

林 優也1、羽深 等1、倉島 圭祐1、伊藤 英樹2、三谷 慎一2、水島 一郎2、高橋 至直3 (1.横浜大院工、2.ニューフレアテクノロジー、3.関東電化工業)

キーワード:クリーニング、SiC、ドライエッチング

SiCエピ成長時にはサセプタにもSiC膜が堆積し問題となるので、それを素早く除去するクリーニング技術が必要である。今までに熱分解炭素被膜を用いてサセプタを保護しClF3ガスで堆積膜を除去する方法が提案されており、純化処理を施した熱分解炭素被膜を用いるとクリーニング温度を570℃にできる可能性が示されている。今回、熱分解炭素(純化処理)被膜上にSiC膜を形成しClF3ガスによるクリーニングを行った。