The 66th JSAP Spring Meeting, 2019

Presentation information

Oral presentation

21 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices" » 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[11a-S011-1~9] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Mon. Mar 11, 2019 9:00 AM - 11:30 AM S011 (South Lecture Bldg.)

Kentaro Kaneko(Kyoto Univ.)

11:15 AM - 11:30 AM

[11a-S011-9] 【Highlight】High-aspect etching of b-Ga2O3 by hydrogen atmosphere anisotropic thermal etching (HEATE)

Yuuki Ooe1, Yuske Namae1, Akihiro Matsuoka1, Yusei Kawasaki1, Daichi Ito1, Yuuta Moriya1, Rie Togashi1, Akihiko Kikuchi1,2 (1.Sophia Univ, 2.Sophia Nanotechnology Research Center)

Keywords:Ga2O3, nano etching

酸化ガリウム(Ga2O3)は、4.5eVの大きなバンドギャップと良好な電気特性を有し、パワーデバイスを中心としたさまざまな応用が期待されている。[1]半導体デバイスのプロセスにおいて、低損傷で高アスペクト構造を形成できるエッチング技術は、デバイス応用の多様性と性能向上をもたらすキーテクノロジーである。参加我々は、これまでに減圧水素雰囲気中でのGaNの熱分解反応を利用した水素雰囲気異方性熱エッチング(HEATE)法を提案し、GaNナノ構造の形成やInGaN/GaNナノLEDの作製について報告してきた。本稿では、HEATE法をb-Ga₂O₃に適用し、そのエッチング特性について初期的な評価を行ったので報告する。