2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

21 合同セッションK「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」 » 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

[9p-S011-1~13] 21.1 合同セッションK 「ワイドギャップ酸化物半導体材料・デバイス」

2019年3月9日(土) 13:45 〜 17:15 S011 (南講義棟)

浦岡 行治(奈良先端大)、大島 孝仁(佐賀大)

16:30 〜 16:45

[9p-S011-11] シンクロトロンX線トポグラフィーによる垂直ブリッジマン成長β-Ga2O3単結晶の欠陥の観察

桝谷 聡士1、佐々木 公平2,3、倉又 朗人2,3、小林 拓実4、干川 圭吾5、上田 修6、嘉数 誠1 (1.佐賀大院工、2.ノベルクリスタルテクノロジー、3.タムラ製作所、4.不二越機械工業、5.信州大、6.金沢工大)

キーワード:酸化ガリウム、X線トポグラフィー