寺崎正

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発表者・著者、共著者

2020年9月8日(火) 09:30 〜 11:30 Z22

一般セッション(口頭講演)
| 1 応用物理学一般
| 1.5 計測技術・計測標準

[8a-Z22-1~8] 1.5 計測技術・計測標準

11:15 〜 11:30

[8a-Z22-8] フレキシブルエレクトロニクスフィルム疲労過程におけるマイクロクラック生成の応力発光可視検出

〇寺崎正¹、安藤直継²、兵頭啓一郎² (1.産総研、2.ユアサシステム機器)